Analizator pomiarowy służący do analizy i pomiaru parametrów optycznych wiązek i punktów skupionych.Składa się z optycznej jednostki wskazującej, jednostki tłumienia optycznego, jednostki do obróbki cieplnej i jednostki zobrazowania optycznego.Jest również wyposażony w funkcje analizy oprogramowania i udostępnia raporty z testów.
(1) Analiza dynamiczna różnych wskaźników (rozkład energii, moc szczytowa, eliptyczność, M2, wielkość plamki) w zakresie głębi ostrości;
(2) Szeroki zakres odpowiedzi długości fali od UV do IR (190nm-1550nm);
(3) Wielopunktowy, ilościowy, łatwy w obsłudze;
(4) Wysoki próg uszkodzeń do średniej mocy 500 W;
(5) Bardzo wysoka rozdzielczość do 2,2um.
Do pomiaru parametrów pojedynczej lub wielu wiązek oraz ogniskowania wiązek.
| Model | FSA500 |
| Długość fali (nm) | 300-1100 |
| NA | ≤0,13 |
| Średnica plamki pozycji źrenicy wejściowej (mm) | ≤17 |
| Średnia moc(W) | 1-500 |
| Rozmiar światłoczuły (mm) | 5,7 x 4,3 |
| Mierzalna średnica plamki (mm) | 0,02-4,3 |
| Liczba klatek na sekundę (fps) | 14 |
| Złącze | USB 3.0 |
Zakres długości fal testowanej wiązki wynosi 300-1100 nm, średni zakres mocy wiązki wynosi 1-500 W, a średnica mierzonego ogniska wynosi od minimum 20 μm do 4,3 mm.
Podczas użytkowania użytkownik przesuwa moduł lub źródło światła, aby znaleźć najlepszą pozycję testową, a następnie korzysta z wbudowanego w system oprogramowania do pomiaru i analizy danych.Oprogramowanie może wyświetlić dwuwymiarowy lub trójwymiarowy diagram dopasowania rozkładu intensywności w przekroju plamki świetlnej, a także może wyświetlić dane ilościowe, takie jak rozmiar, eliptyczność, względne położenie i intensywność plamki świetlnej w dwóch -kierunek wymiarowy.Jednocześnie wiązkę M2 można zmierzyć ręcznie.
